VULNERABILIDADDetectada 05 NOV · 01:55

CVE-2026-68991 Corrupción de memoria en Samsung Exynos ENN NeuralNetworks HAL

Validación de entrada incorrecta durante el procesamiento de solicitudes en Samsung Exynos ENN NeuralNetworks HAL puede causar corrupción de memoria y derivar en una denegación de servicio.

—S/D

CVSS 3.1 · PRELIMINAR

Probabilidad de explotación · EPSS del 09/110,1 % · percentil 3
Explotada activamenteNo confirmada
Exploit públicoNo conocido

Afectados

Samsung Semiconductor Exynos 1480
0
Samsung Semiconductor Exynos 2400
0

Qué hacer

Verificá si usás Exynos 1480 y en qué versión.
Actualizá a la versión corregida que indique el fabricante en su aviso o aplicá su mitigación.
Revisá registros y accesos de los sistemas expuestos para descartar un uso previo.

Calculadora CVSS

Esta vulnerabilidad todavía no tiene vector CVSS publicado.

Descripción original

In the Samsung Exynos ENN NeuralNetworks HAL, improper input validation during request processing can cause memory corruption and lead to a denial of service condition.

Referencias (1)

semiconductor.samsung.com/support/quality-support/product-security-updates/

Resumen traducido automáticamente de la descripción original. Fuente: Nureq Monitor. Cómo funciona.